Microscópio eletrônico de varredura (FEG) ambiental – Quattro ESEM

Microscópio eletrônico de varredura (FEG) ambiental - Quattro ESEM

Microscópio eletrônico de varredura FEG para pesquisa com capacidade de operação em modo ambiental permitindo o imageamento de amostras.

Aplicação principal

Microscópio eletrônico de varredura FEG para pesquisa com capacidade de operação em modo ambiental permitindo o imageamento de amostras:

  • Metalizadas
  • Não metalizadas
  • Amostras com até 100% de hidratação

Opções de configuração

Workstation com sistema operacional Windows 10

Suporte Multi-purpose permitindo o carregamento simultâneo de 18 amostras padrão (ø 12 mm), três amostras pré-inclinadas de 45˚ e duas barras de fileira (vertical e 52˚ pré-inclinadas)

Câmera CCD IR para visualização da relação amostra/ objetiva do sistema para controle de working distance

Detector de eletrons secundarios

Detector de eletrons secundarios Low-Vacuum

ESEM detection mode (detecção em modo ambiental, sem necessidade de preparação prévia dos materiais biológicos e a realização de experimentos dinâmicos)

Cooling / Heating Stage Control: quando resfriados entre 0 e 10 ° C, as amostras de natureza muito diversas podem ser fotografadas e analisadas em condições de umidade relativa de até 100%. Com o estágio de resfriamento, experimentos de ciclo de umidade podem ser realizados para caracterizar a morfologia da amostra e a distribuição de fase em várias condições de umidade relativa

A liofilização in situ pode ser realizada quando a faixa de temperatura do estágio de resfriamento é definida abaixo de 0 ° C com um mínimo de -20 ° C. O estágio de resfriamento também pode aquecer a amostra até ~ 60 ° C

In-Chamber Nav-Cam: câmera com resolução de 6 mega pixels permite além da navegação pelas amostras no suporte dentro da câmara do microscópio, a aquisição de imagem digital

DBS Detector: detector direcional retroespalhado

Detector STEM 3+ retrátil para varredura de imagens de transmissão nos modos de campo claro, campo escuro e campo escuro de alto ângulo

Mesa para acomodação do sistema

Diferenciais

  • Microscópio eletrônico de varredura FEG que opera em alto vácuo | baixo vácuo e modo ambiental (ESEM™)

Permite o imageamento de amostras secas metalizadas e amostras não metalizadas com até 100% de hidratação característica essa fundamental a uma plataforma que esteja localizada em uma central multiusuários permitindo assim a utilização de diversos tipos de amostras

Permite o trabalho com amostras não-condutoras ou amostras hidratadas que podem ser inseridas no MEV sem preparo prévio como secagem por ponto crítico ou metalização por

exemplo, gerando imagens de alta resolução com as condições reais das amostras

No modo ESEM, água (em forma gasosa) pode ser introduzida de forma controlada para dentro da área da câmara em qualquer pressão, desse modo neutralizando a carga da amostra, e resultando em melhor imagem

Esta capacidade é única dos microscópios da Thermo Fisher Scientific e é fundamental para permitir a pesquisa sobre a mais ampla gama de tipos de amostras

Este sistema tem uma história comprovada de trabalhar com amostras úmidas utilizando acessório do tipo Peltier que pode manter as amostras por um período prolongado, a partir de 30 minutos até horas, sem afetar o desempenho do sistema de canhão de elétrons

  • Possui detectores SE e DBS

Que podem operar com amostras sob condições de umidade

  • Sistema de correção de imagem SmartScan com DCFI (drift compensated frame integration)

Para correção de imagem em tempo real. Sistema de software que minimiza o acúmulo de carga enquanto o feixe de elétrons está realizando a varredura, corrigindo a imagem e proporcionando melhor resultado

  • Detector directional backscattered (DBS)

O detector backscatter oferece ajuste de contraste, baixa sensibilidade em Kv além de poder ser operado de maneira exclusiva em duas diferentes formas, sendo:

Possibilidade de operação do detector em modo circular com diferentes seleções e diferentes contrastes

Possibilidade de operação do detector em modo angular com diferentes seleções e diferentes contrastes

    Mídia

    Microscópio eletrônico de varredura (FEG) Quattro ESEM

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